电子和扫描探针显微镜

电子和扫描探针显微镜单元提供解决方案的成像和分析在纳米尺度。该单元包含两个扫描电子显微镜,两个扫描探针显微镜和三个透射电子显微镜。

主组的电子显微镜都配有数字图像采集和能量色散x射线系统,用于分析元素组成和分布。最新添加的是Jeol 1400 TEM和Jeol IT300 SEM。ganta阴极发光探测器也已经安装在我们现有的场发射枪SEM上。2015年将安装一个新的高分辨率分析FEG-TEM。

两种模块化SPM显微镜都能够进行原子分辨率成像以及许多其他成像和分析模式。一个Bruker Multimode系统最近升级了Peakforce技术,以实现导电性和定量材料属性(包括模量、粘着力、变形和耗散)映射。

新Jeol IT300 SEM
新Jeol 1400 TEM
新峰力多模8 AFM

纳米化学的艺术

设备完善的电子显微镜实验室提供的丰富技术使我们能够回答最基本的问题:“它看起来像什么?”除了提供信息,结果往往是令人震惊的视觉。其中一些图片甚至还以艺术价值为理由赢得了比赛!

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